X光检测
DL-C6550 整箱智能 X 射线异物检测系统
xray-dl-c6550 · X光异物检测
DL-C6550 全自动智能 X 射线异物检测系统，在整箱检测场景实现「AI 视觉识别 + 在线自动剔除」的全闭环智能控制，显著将检测精度提升至直径 0.4mm。
技术参数
技术参数
| 对比维度 | 传统 X 射线异物检测机 | DL-C6550CX 智能异物检测机 |
|---|---|---|
| 核心检测精度 | 灵敏度较低，检测能力有限 金属球：≥ Φ1.5 mm 对更细金属丝、非金属异物检测困难，易漏检 | 高灵敏度，检测精度显著提升 金属球：≥ Φ0.6 mm 不锈钢丝：≥ Φ0.4×2 mm 玻璃：≥ Φ1.5 mm 陶瓷/石子：≥ Φ1.0 mm |
| 异物识别方式 | 依赖人工经验 需操作员长时间紧盯屏幕，凭经验判断图像。易疲劳、标准不一，导致误判和漏检风险高 | AI 视觉智能识别 内置深度学习算法，自动分析图像、标记异物，替代人眼，判断客观、一致，杜绝人为疏忽 |
| 报警与剔除机制 | 人工发现，手动干预 发现异物后需人工暂停流水线，再手动拣出不良品，效率低，影响生产连续性 | 全自动闭环智控 实现「AI 识别 → 自动报警 → 在线剔除」全流程自动化。实时报警，剔除装置瞬间动作，生产无需停顿 |
表中规格为标准机型，如需其他尺寸及特殊要求，可根据需求定制。检测精度为无产品效应和环境干扰情况下的测试值，实际检测精度取决于产品及使用环境。
产品特点
产品特点
- 整箱检测实现「AI 视觉识别 + 在线自动剔除」全闭环
- 检测精度直径 0.4 mm
- AI 识别 → 自动报警 → 在线剔除全流程自动化
应用场景
应用场景
整箱检测食品制药